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大半徑小圓弧測量方法
發(fā)表時間:2019-12-05     閱讀次數(shù):     字體:【

大半徑小圓弧,是一個永恒的測量問題,用什么樣的方法測量最準(zhǔn)確成為了業(yè)界爭執(zhí)不下的千年無解方程式。今天,我們將圍繞以下幾個問題展開研究,看看是否真的無解。

1、什么叫做大半徑小圓?。?/span>

如上圖,當(dāng)弧長小于1/4周長C的時候,我們統(tǒng)稱為大半徑小圓弧,當(dāng)弧長遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于半徑時,比如弧長等于1/32周長,要通過測量該小段圓弧確定半徑R,這個測量過程會產(chǎn)生巨大的半徑偏差。

2、大半徑小圓弧的測量不確定性到底有多大?

如上圖,要檢測一個只有15°的圓弧,半徑為R10,使用OMM測量5個點構(gòu)造圓弧輸出半徑,這個時候紅色點和綠色點之間只錯位了一個點位置,測試結(jié)果卻產(chǎn)生了巨大偏差。

我們再舉一個實際案例。假設(shè)小于1/4圓周(<90°)的圓弧角度為66°,理論直徑為2.10+0.08/-0.03.

第一種狀態(tài):

假設(shè)圓心無偏移。通過理論圓心分別標(biāo)出上限2.18和下限2.07,這個時候圓弧的半徑正偏差是0.04,負(fù)偏差是-0.015。也就是說,假設(shè)圓心在實際測量中不會發(fā)生偏差,那么這個測量公差帶可以在0.04+0.015=0.055這個范圍內(nèi)波動,這個偏差理論上設(shè)備是完全可以滿足的。

第二種狀態(tài):

但是在實際測量活動中,圓心一定會發(fā)生偏差。通過作角平分線,假設(shè)圓弧兩端部無任何偏差,此時經(jīng)過角平均線上的半徑偏差最大,這樣,經(jīng)過圓弧兩端點分別作2.18和2.07圓,我們發(fā)現(xiàn),經(jīng)過角平均線上的正偏差為0.003,負(fù)偏差為-0.007。

這說明了假如圓在2.10+0.08/-0.03范圍內(nèi)變動,并且圓弧兩端部無任何變動的情況下,角平均線上允許的最大偏差只能控制在+0.003/-0.007范圍內(nèi),而在實際測量中,圓弧兩端的點、角平均線上的點以及圓弧其他任何位置上的點都會產(chǎn)生不同程度的變動,我們假設(shè)這些點都在0.005+0.005/-0.005范圍內(nèi)變動,雖然這個變動非常接近測量設(shè)備的極限精度,但是,所有變動點構(gòu)造成的圓弧一定是產(chǎn)生大偏差的。

如上圖,所有測試點都在μ級以內(nèi)偏差,但是圓直徑已經(jīng)超差+/-0.05,這充分說明了大半徑小圓弧的測量是不準(zhǔn)確的,并非測量設(shè)備問題,而是大半徑小圓弧的特征限制了其并不具備準(zhǔn)確測量的資格。

類似大半徑小圓弧的測量,最理想的公差設(shè)定方式應(yīng)該是根據(jù)零件實際裝配需求,轉(zhuǎn)換成帶基準(zhǔn)的線輪廓度。

比如以上案例中,假設(shè)實際裝配需求是圓弧的每個點允許偏差為+0.04/-0.015,那么排除參考基準(zhǔn)的公差累積,轉(zhuǎn)換為線輪廓度則為0.055U0.04,相對于設(shè)備μ級的變異,這樣的公差是完全可以準(zhǔn)確控制的。

3、為什么現(xiàn)在的設(shè)計圖紙都要求管控這些圓?。?/span>

因為對于異形零件,在組裝公差配合要求越來越高的市場需求下,圓弧與圓弧之間的配合非常頻繁,設(shè)計圖紙是不可避免的需要管控圓弧尺寸,而現(xiàn)在的圖紙設(shè)計者設(shè)計水平參差不齊,尤其是對GD&T理解欠缺的前提下,設(shè)計者往往會趨向于直觀標(biāo)注尺寸的思路,忽略了零件之間實際配合公差的要求。

4、目前到底有哪些測量方法可以解決大半徑小圓弧的相對準(zhǔn)確測量?

1) 通過參考零件基準(zhǔn)坐標(biāo)系,偏移間隔相等的點,定點測量;

優(yōu)點:

可以保證每個點都有固定的坐標(biāo),確保測量的一致性;

缺點:

當(dāng)基準(zhǔn)坐標(biāo)不穩(wěn)定、或相對于基準(zhǔn)坐標(biāo)的縱橫向距離尺寸公差比較大時,會導(dǎo)致所定的點脫離了圓弧的實際范圍,或者所定的點并非覆蓋到圓弧的80%實際圓弧上,這樣就會產(chǎn)生巨大偏差。

2)在影像測量儀中,參考基準(zhǔn)坐標(biāo)系,把基準(zhǔn)原點平移到圓弧所在的理論圓心,再把直角坐標(biāo)XYZ切換為極坐標(biāo)RθZ,接著在圓弧任意位置取多個點,選取半徑偏離理論半徑最差的值作為最終測量值;

優(yōu)點:

不用考慮基準(zhǔn)的偏差累積,該方法可以準(zhǔn)確的測量圓弧的半徑偏差;

缺點:

該方法需要頻繁切換坐標(biāo)系,并且需要目視手動或半自動取點,效率低下,只適合于做工程開發(fā)檢測驗證,不適合制程檢測。

3)如果與圓弧相切的邊緣都是直邊,可以直接運用該兩條直邊的交點作為坐標(biāo)原點,再偏移間隔相等的點,定點測量;定點的同時,要始終確保所有點的X或Y坐標(biāo)一定不是0,這樣就能最大限度的確保點落在圓弧范圍內(nèi)。

優(yōu)點:

該方法消除了基準(zhǔn)坐標(biāo)系、相對于基準(zhǔn)坐標(biāo)系的線性距離公差的累積誤差。

缺點:

當(dāng)與圓弧相接的兩直邊直線度較差,并且端部發(fā)生變形時,取線的長短直接影響圓弧的準(zhǔn)確測量。

解決方案就是通過基準(zhǔn)坐標(biāo)系,定義線的起始位置,確保測量線段的一致性,最大限度的控制圓弧上的測試點的穩(wěn)定性。

4)通過一鍵式測量設(shè)備的直線和直線自動構(gòu)造切點圓弧功能,直接讀取圓弧半徑;

優(yōu)點:

避開了直接取圓弧帶來的不確定性偏差,重復(fù)性好;

缺點:

無(只適用于與圓弧相切的直線邊緣非常規(guī)則的產(chǎn)品)

5)參考基準(zhǔn)坐標(biāo)系,把基準(zhǔn)原點平移到圓弧所在的理論圓心,再以理論圓弧中心為原點,等分固定角度旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系,在圓弧上相對于坐標(biāo)系的X或Y的零點上取點測量。

優(yōu)點:

可以確保所有點的方向一定是在每個旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系的0點位置,重復(fù)性好;

缺點:

當(dāng)實際圓弧范圍遠(yuǎn)比理論圓弧范圍大或小很多的時候(假設(shè)圓弧半徑OK),該方法無法準(zhǔn)確測量,該方法適用于CNC精加工零件的檢測。

總結(jié)

對于大半徑小圓弧的測量,其測量方法還有很多種類,不管使用任何方法,都有一定的局限性,需要做到具體問題具體分析后,再選擇最佳測量方案。

在實際的工程圖紙評估中,我們提出更改為線輪廓度管控的同時,要懂得運用GD&T基礎(chǔ)知識,結(jié)合實際裝配需求,定義出具體的線輪廓度公差。

如果想深層次的理解大半徑小圓弧測量問題,可以在某度輸入“大半徑小圓弧測量方法及誤差分析”,有興趣的朋友可以下載研究一下。同時,如果你有更好的測量方法,可以在留言區(qū)發(fā)表你的見解。


 
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